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 產品介紹:
PL光致發光測試系統能夠對單晶硅片及電池、多晶硅片及電池、薄膜電池、化合物電池等幾乎所用的太陽能電池進行少子壽命掃描、串聯電阻掃描、硅片分類、各種缺陷、暗條件I-V 曲線、光照條件I-V 曲線等完整的一系列參數快速準確分析。能夠在線和離線對硅片、絨面、擴散、刻蝕、PECVD、電極印刷、燒結、電池片等各個工藝環節進行檢測和分析；是分析工藝問題，提高成品率，降低成本必不可少的關鍵設備，為產品質量和公司品質提供了完全可靠的保障。

產品特點：
■ 適用幾乎所有類型硅片&太陽能電池: 單晶硅片及電池/多晶硅片及電池/薄膜電池/化合物電池
■ 完整的檢測系統：少子壽命掃描/串聯電阻掃描/硅片分類/隱裂/暗條件I-V曲線/光照條件I-V曲線
■ 速度快，每片測試時間小于1秒
■ 精度高，能實時找到每個致少子壽命降低的缺陷
■ 可以監控和優化關鍵工藝，包括擴散、去磷硅玻璃、PECVD等幾乎所有工藝環節
■可以在線和離線分析
■ 功能強大的分析軟件，可以分析幾乎所有的缺陷
■ 先投入先產出，投入產出比遠高于行業的1：2
■ 革命性的產品，未來的趨勢所在

技術參數：
■ 銦砷鎵傳感器：900-1500nm
■ 測試尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm
■ 像素：752×480pixel
■ 尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg
■每片測試時間<1s

典型客戶:
美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。