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太陽能光伏質(zhì)量檢測儀器 >> 切片質(zhì)量檢測儀器 >> 硅片缺陷觀測儀：HS-WDI

產(chǎn)品介紹：
硅片缺陷觀測儀(HS-WDI)，于對硅片的缺陷進行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等。
實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果。

產(chǎn)品特點：
■ 適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯、層錯、劃痕、崩邊等；
■ 使硅片缺陷觀察工作簡單化，準確化，同時極大程度降低此項工作強度；
■ 實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果；
■ 使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)先進，像素較高，成像清晰、線條細膩、色彩豐富；
■ 傳輸接口為 USB2.0 高速接口，軟件模塊化設計；
■ 有效分辨率為 200 萬像素；
■ 所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。

實際觀察效果：

硅片放大效果100倍

硅片放大效果200倍

硅片放大效果400倍

推薦工作條件：
■ 溫度：23±2℃
■ 濕度：60%~70%
■ 無強磁場、不與高頻設備鄰近

典型用戶：
浙江昱輝、江西塞維ＬＤＫ、常州天合等

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